氫化物發(fā)生-原子熒光(HGAFS)法是As、Bi、Hg等有害元素分析中常用的一種方法，特別是在我國，已經(jīng)建立了相應(yīng)的國標(biāo)方法、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、地方標(biāo)準(zhǔn)。這是因?yàn)镠GAFS測(cè)量具有靈敏度高，干擾少的優(yōu)點(diǎn)。雖然HGAFS法的干擾，特別是基體干擾相對(duì)較輕，但仍然存在一定的干擾，可能造成顯著的測(cè)量誤差，甚至使測(cè)量結(jié)果*失效。要想有效地消除這些干擾，必須了解干擾現(xiàn)象的本質(zhì)，才能采取有效的消除干擾的方法。本章就根據(jù)前人對(duì)氫化物原子熒光法、氫化物原子吸收法、氫化物原子發(fā)射法和氫化物分光光度法的研究成果，對(duì)HGAFS分析中干擾機(jī)理進(jìn)行較為詳細(xì)的介紹，力圖正確地解釋干擾現(xiàn)象，采取有效的方法減小和消除干擾。

 6.1干擾的分類

Dedina[1]曾對(duì)氫化物發(fā)生-原子吸收(HGAAS)法中的干擾作了系統(tǒng)的分類(見圖6.1)，主要包括液相干擾和氣相干擾兩大類。其中，液相干擾產(chǎn)生在氫化物形成或形成的氫化物從樣品溶液中逸出的過程中，它是由于氫化物發(fā)生速度的改變(發(fā)生動(dòng)力學(xué)干擾)或者是由于發(fā)生效率的改變，即轉(zhuǎn)化為氫化物的百分比的改變而引起的。氣相干擾一般在氫化物傳輸過程中或在原子化器中產(chǎn)生，因此又可分為傳輸過程干擾和原子化器中的干擾。傳輸過程的干擾發(fā)生在氫化物從樣品溶液到原子化器的途中，包括待測(cè)元素氫化物的傳輸速度(傳輸動(dòng)力學(xué)干擾)和損失(傳輸效率干擾 )所引起的干擾。原子化器中的干擾包括自由基(主要是氫基)數(shù)量及待測(cè)元素原子的衰減所引起的干擾，其中產(chǎn)生自由基干擾的原因是干擾元素爭(zhēng)奪自由基，使其數(shù)量不夠用來使待測(cè)元素原子化，產(chǎn)生待測(cè)元素衰減的原因是干擾元素加速了光路中游離的待測(cè)元素原子的衰減。所謂“記憶性”干擾系指某種元素在造成前一次氣相干擾之后，即使在以后的試液中不含該元素，干擾也繼續(xù)存在。

由于HGAFS和HGAAS無論是在HG的樣品導(dǎo)入過程，還是在后續(xù)的原子化過程中，都非常類似，所以上述HGAAS的干擾分類對(duì)HGAFS依然適用。但同時(shí)，HGAFS又有一些自身的特殊性，還存在較輕微的光譜干擾和熒光猝滅干擾。下面就分別對(duì)這些干擾進(jìn)行介紹。